易于在任意波長(zhǎng)下測(cè)量固體、薄膜、液晶和液體的折射率。

多波長(zhǎng)阿貝折射儀

DR-M系列

DR-M2

在450～1100nm內(nèi)改變波長(zhǎng)，可以測(cè)量折射率·阿貝數(shù)（vd，ve）。

DR-M4

在450～1100nm內(nèi)改變波長(zhǎng)，可以測(cè)量折射率·阿貝數(shù)（vd，ve）。

DR-M2/1550

是能測(cè)量到DR-M2的1550nm的模型。

DR-M4/1550

是能測(cè)量到DR-M4的1550nm的模型。

多波長(zhǎng)阿貝折射儀DR-M2

特點(diǎn)

可變更波長(zhǎng)1100nm域?qū)?yīng)模型

本儀器可在450～1100nm內(nèi)改變波長(zhǎng)，測(cè)量折射率·阿貝數(shù)（νd，νe）。

如果附帶光源、干涉濾鏡，將樣品放置在棱鏡面上，使折射視場(chǎng)的邊界線與交叉線的交點(diǎn)對(duì)齊，則測(cè)量值將被數(shù)字顯示。

另外，也可以與打印機(jī)（可選）連接。

規(guī)格

測(cè)量范圍折射率：1.3278～1.7379（450nm）

折射率：1.3000～1.7100（589nm）

折射率：1.2912～1.7011（680nm）

折射率：1.2743～1.6840（1100 nm）

測(cè)量精度折射率：±0.0002

（附帶的測(cè)試件500～650nm）